顆粒表徵的光學技術及應用
許人良
7人在讀
33.7萬字總字數
¥109.19定價
許人良
本書從對顆粒體系與顆粒表徵的一般知識介紹出發，通過對光散射理論的實用性討論，系統總結了顆粒測量的基本原理和各種表徵方法，如光散射技術和光學計數法、激光粒度法、光學圖像分析法、顆粒跟蹤分析法、動態光散射法和電泳光散射法，涵蓋了最新的技術發展以及市場上最新的儀器產品，對每種技術相關的儀器構造與使用、數據採集與結果分析進行了詳細說明。關於顆粒表徵的標準化也有專門的介紹。 本書適合於顆粒表徵和光學領域的科研人員、高校教師和學生、企業相關技術人員閱讀。