X射線粉末衍射技術——測量與分析基礎

內容簡介

本書內容主要分爲五部分：X射線粉末衍射技術的發展歷程和功能應用；X射線衍射儀器、光路配置、樣品製備和測量過程；物相分析的基本原理、分析過程、注意事項、結果評價和部分實例；X射線衍射儀器的維護保養和輻射安全；X射線衍射技術的學習方法論。 本書着重介紹衍射圖譜的產生過程和各類影響因素，以及與物相分析功能的相關性。在測量技術方面，詳細介紹了衍射儀中各類光路元器件的工作原理和參數設置，並對測量過程的每個環節進行了詳細論述。在物相分析方面，針對最常用的物相鑑定功能開展了鑑定原理、鑑定方法、鑑定技巧、數據庫應用等方面的詳細論述，併爲鑑定結果的可信度提出評估方法和依據；針對物相定量分析、微結構分析等深層次功能，由淺入深地介紹了數學原理的推導、功能發展的歷程，以及部分案例的應用，並且論證了分析方法的簡化過程等內容。最後對衍射儀的維護保養、X射線輻射安全等方面進行了詳細介紹，並對X射線衍射技術的學習方法和技巧進行了深入討論，總結性指出了技術能力晉升的途徑。 本書可作爲相關專業本科生、研究生的教學用書，也可作爲從事X射線衍射測量和物相分析工作的技術人員的參考書。

書籍信息