一板成功——高速電路研發與設計典型故障案例解析
張晶威
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張晶威
《一板成功——高速電路研發與設計典型故障案例解析》是面向硬件電路與系統的工程技術類書籍，通過對電子工程設計中的實際故障案例分析，幫助讀者形成硬件設計流程中電路調測和故障排查的方法體系。從研發設計人員的視角探求硬件電路與系統的測試測量、電路調試、故障分析以及解決方案，內容涵蓋時鐘、電源、邏輯器件、總線、高速信號、測量技術等常規的硬件電路模塊。兼具理論性和工程實用性。《一板成功——高速電路研發與設計典型故障案例解析》適合作爲從事計算機、通信設備、高端儀器製造等行業的電路設計、開發專業工程師、研究人員的技術參考書，也可以作爲電子科學技術、電子工程專業高年級本科生和研究生的參考用書。