顆粒粒度測量技術及應用（第二版）
蔡小舒 蘇明旭 沈建琪 等 著
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蔡小舒 蘇明旭 沈建琪 等 著
本書根據內容分成4部分，首先介紹了顆粒粒度的基本知識以及光散射和超聲散射顆粒測量技術的理論基礎、反演算法等。其次介紹了基於光散射理論和超聲散射理論發展的各種顆粒測量技術，包括納米顆粒測量、亞微米和微米顆粒測量、直徑到數千微米的特大顆粒和液滴噴霧的測量、高濃度顆粒測量、氣溶膠顆粒測量等，覆蓋了目前在科研和生產生活中遇到的各種顆粒粒度範圍。再次介紹了顆粒粒度測量技術的應用和儀器，並介紹了其他一些顆粒測量技術作爲上述基於光散射和超聲散射的各種顆粒測量技術的補充。最後列舉了各種情況下的應用實例。還提供了國內外有關顆粒測量的各種標準、國內外生產和提供標準顆粒的廠商名錄、標準顆粒規格等資料，對於從事顆粒測量的科技人員有很大的參考價值。 本書是作者多年來在顆粒測量技術研究和應用領域的總結，是當今國際上顆粒粒度測量技術發展的最新方法和技術，也反映和代表了我國目前顆粒粒度測量技術的水平。 本書適合廣大涉及到顆粒測量、顆粒研製、生產和應用的科研人員和工程師提供參考，並可作爲高等學校有關學科的教師和研究生的教材和參考書。